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電子元器件檢測(cè)時(shí)間：2023-09-14型號(hào)：微焦點(diǎn)X射線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家瀏覽量：23671電子元器件檢測(cè)系統(tǒng)是一種使用X射線(xiàn)技術(shù)對(duì)電子元器件進(jìn)行非破壞性檢測(cè)的系統(tǒng)。它通過(guò)發(fā)射高能X射線(xiàn)束照射待測(cè)元器件，并利用X射線(xiàn)的透射、散射和吸收等現(xiàn)象，獲取元器件內(nèi)部的結(jié)構(gòu)、缺陷或異常情況的信息。
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